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　　用于制备基于石墨烯的异质结构的石墨晶体通常被认为是无缺陷的。近日，加州大学圣克鲁兹分校JairoVelascoJr.，FrédéricJoucken，巴黎萨克雷大学CristinaBena等通过扫描隧道显微镜研究发现，用于制备石墨烯器件的常用的石墨可能包含大量的天然缺陷。

本文要点：1）作者通过宽范围的表面扫描确定了它的天然缺陷的浓度为6.6×cm-。）作者进一步研究了这些天然缺陷对伯纳尔堆叠双层石墨烯电子特性的影响。作者观察到门依赖的谷内散射，并成功地将实验结果与基于T矩阵的计算进行了比较，揭示了载流子密度明显依赖于散射矢量分布。作者还提出了一种评估短尺度散射空间分布的技术。3）最后，作者提出了基于玻尔兹曼传输方程的理论分析，该分析可预测在研究中发现的稀释的天然缺陷是重要的外在散射源。FrédéricJoucken,etal.DirectVisualizationofNativeDefectsinGraphiteandTheirEffectontheElectronicPropertiesofBernal-StackedBilayerGraphene.NanoLett.,01DOI:10./acs.nanolett.1c 　　"CGIA企业需求服务中心"是由石墨烯联盟（CGIA）成立的，以推动石墨烯下游应用为己任，致力于搭建供需对接平台的服务部门。中心着力于解决需求痛点，创新服务模式，为企业提供专业、高效、精准的需求对接服务，主张以解决需求痛点，提升企业价值，实现共同成长为目标；以支撑企业精准把握市场定位，推动产品技术转型升级，加快技术产品应用推广及商业化，助力区域新旧动能转换为价值体现。我们期待怀揣梦想，志同道合的朋友找到我们，一起去征服梦想和未来~

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